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事例紹介パワーデバイス関連 事例

事例8 | パワーサイクル試験前後のシリコーンゲルNMR解析

パワーサイクル試験後の封止シリコーンゲルの劣化を確認する。

パルスNMR測定条件
・測定装置:JEOL JNM-MU25(25MHz)
・測定手法:Carr Purcell Meiboom Gill (CPMG)法
・パルス幅:90°pulse、2μs
・繰り返し時間:4sec
・積算回数:8回
・測定温度:室温
 
①試験後品
②初期品
 成分1
 (分子運動が拘束されている割合)
存在比(%)
25.4
28.8
 成分2
 (中間成分)
存在比(%)
61.5
59.6
 成分3
 (分子運動が自由にできる割合)
存在比(%)
13.1
11.6

試験後ゲルの劣化が進むと分子鎖が切れるため分子運動が自由にできる割合が多くなりました。

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