パワーサイクル試験前後のAlワイヤ-外観観察│事例紹介│分析評価事業│メルコセミコンダクタエンジニアリング株式会社（MSEC）│三菱電機グループ

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事例紹介パワーデバイス関連事例
事例４｜パワーサイクル試験前後のAlワイヤ-外観観察手法解体 → 封止シリコーンゲル除去 → 表面SEM観察初期試験後試験後品の表面SEM観察でAlワイヤ-ネック部に損傷が確認されました。

事例紹介パワーデバイス関連事例

解体 → 封止シリコーンゲル除去 → 表面SEM観察

試験後品の表面SEM観察でAlワイヤ-ネック部に損傷が確認されました。