光イオン化法GC‐MS、放射光XAFSのご紹介│事例紹介│分析評価事業│メルコセミコンダクタエンジニアリング株式会社（MSEC）│三菱電機グループ

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光イオン化法GC-MSを用いた有機分析（フィルム付着物）
光イオン化法ＧＣ-ＭＳを用いた有機分析（フィルム付着物）

EI法と光イオン化法で得た情報を総合的に解析することで同定精度を向上

XAFSを用いた化学状態分析(様々な化学状態のCu化合物)

[XAFS]
・Ｘ線吸収微細構造
（X-ray Absorption Fine Structure）

[得られる情報]
(NEXAFS：X線吸収端近傍構造)
　⇒ 物質中の着目元素の電子構造、価数
(EXAFS：広域X線吸収微細構造)
　⇒ 着目元素の周囲の構造に関する情報
　　①隣接原子種 ②原子間距離 ③配位数

NEXAFS(XANES)スペクトル
ＮＥＸＡＦＳ（ＸＡＮＥＳ）スペクトル

NEXAFSスペクトルにおいて各種Cu化合物の相違を確認 ⇒ Cuの価数の情報を得る事が可能

光イオン化法GC-MS，放射光XAFSのご紹介（PDF形式：147KB）