共晶はんだ表面の分析(TOF-SIMS vs FE-AES)│事例紹介│分析評価事業｜メルコセミコンダクタエンジニアリング株式会社（MSEC）

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事例紹介実装・アセンブリ関連　事例
事例７｜共晶はんだ表面の分析(TOF-SIMS vs FE-AES) 実装不具合を生じた共晶はんだボールの表面付着成分の分析を行う。 AES分析では元素情報(C)しか得られないが､　　 TOF-SIMS分析では､詳細情報を得ることが可能。

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実装不具合を生じた共晶はんだボールの表面付着成分の分析を行う。

AES分析では元素情報(C)しか得られないが､　　
TOF-SIMS分析では､詳細情報を得ることが可能。