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事例紹介実装・アセンブリ関連 事例

事例7|共晶はんだ表面の分析(TOF-SIMS vs FE-AES)

実装不具合を生じた共晶はんだボールの表面付着成分の分析を行う。

共晶はんだ表面のFESEM像
FEAES(デプスプロファイル)

TOF(Positive Ion)
TOF(Negative Ion)

AES分析では元素情報(C)しか得られないが、   
TOF-SIMS分析では、詳細情報を得ることが可能。
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