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事例紹介実装・アセンブリ関連 事例

事例2 | はんだ接合部断面解析

目的

BGAのCuランド上に搭載したはんだボール接合界面の状態を評価する。

図1?はんだボール接合界面

収縮率の低い埋め込み樹脂を
使用することにより試料への
ストレスを軽減

分析方法

1. 断面観察

サンプルを樹脂包埋したのち断面研磨
FE-SEM観察による高倍率の観察が可能

図1 接合不良の模式図
樹脂包埋したあと断面研磨
矢印
断面
観察
図2 不良ボール FE-AES表面スペクトル 矢印 図3 不良ボール デプスプロファイル

図1 はんだボールが搭載されたBGA

図2 はんだの断面SEM像

図3 接合界面拡大像

図4 接合界面拡大像(50,000倍) FE-SEMを用いること
により高倍率の観察
が可能である。
図5 接合界面拡大像(100,000倍)

  図4 接合界面拡大像(50,000倍)

  図5 接合界面拡大像(100,000倍)

まとめ

はんだとランドの界面にCu6Sn5とCu3Snの2種類の金属間化合物が確認される。
Cu3Snの層は100nm程度と非常に薄い層であるが、断面研磨法でも明瞭に観察することができる。

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