BGAのCuランド上に搭載したはんだボール接合界面の状態を評価する。
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収縮率の低い埋め込み樹脂を
使用することにより試料への
ストレスを軽減
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1. 断面観察
サンプルを樹脂包埋したのち断面研磨
FE-SEM観察による高倍率の観察が可能
樹脂包埋したあと断面研磨
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断面 観察
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図1 はんだボールが搭載されたBGA
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図2 はんだの断面SEM像
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図3 接合界面拡大像
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FE-SEMを用いること
により高倍率の観察
が可能である。
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図4 接合界面拡大像(50,000倍)
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図5 接合界面拡大像(100,000倍)
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はんだとランドの界面にCu6Sn5とCu3Snの2種類の金属間化合物が確認される。
Cu3Snの層は100nm程度と非常に薄い層であるが、断面研磨法でも明瞭に観察することができる。
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