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Analysis & Evaluation SectionCase Study

事例紹介
ホーム > 分析評価事業 > 事例紹介 > 形態観察/結晶構造解析-1

パワーデバイス解析-1

パワーデバイスの一貫解析技術

電気特性評価から故障解析・構造解析まで!
電気特性評価
パワーデバイスおよびモジュール各種特性評価(指定条件での各種データ取得)
  • 静特性評価(耐圧・オン抵抗・Vthなど)
  • 動特性評価(スイッチング・サージ・短絡試験など)
  • 市場不具合の発生モード検証および再現実験
パワーデバイスの一貫解析技術
故障解析
  • EMS/OBIRCH

 → FIB加工
 → 断面観察

パワーデバイスの一貫解析技術
構造解析
  • 接合部断面観察(研磨SEM)
  • 拡散層観察(選択エッチング、電位コントラスト、SCM/SMM)
  • 拡散プロファイル(SR,SIMS)
パワーデバイスの一貫解析技術

Webツールを用いたリモート立会い分析システム

分析装置のモニタをWEBカメラを通じて画像共有し、
リアルタイムでデータ確認&要望指示が可能!

解析ご希望のサンプルを事前に弊社にご送付頂きサンプルを見ながら打ち合わせした後に装置に導入、 ご希望の観察箇所・分析箇所をその場でご指示頂き、結果をタイムリーにご確認頂けます。

リモート立会いシステム
Webツールを用いたリモート立会い分析システム
  • 対応WEB会議ツールについては予めお問い合わせ下さい。
  • 映像品質は通信環境によりますので、事前に接続テストを実施します。

SiCデバイスの解析事例

構造解析から故障解析まで幅広いニーズにお応えします!
パッケージ構造の断面解析(FE-SEM観察 → EDX分析)
SiCデバイスの解析事例
SiCデバイスの故障解析
SiCデバイスの解析事例

EMS/OBIRCHで特定された故障位置の物理解析を行い、故障の状況を明らかすることが可能。

LEDデバイスの解析事例

構造確認から不具合モード解析まで一貫して対応します。
パッケージ構造の断面解析(FE-SEM観察 → EDX分析)
LEDデバイスの解析事例
素子発光層の断面構造解析(FIBサンプリング → STEM-EDX分析)
LEDデバイスの解析事例
基板AgめっきPad部変色原因調査(XPS分析、TOF-SIMS分析)
LEDデバイスの解析事例

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092-805-3834 受付時間:9時~16時30分

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