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分析評価事業
事例紹介
STEM/EDX、TEMによるネオジム磁石評価
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その他分野 事例
事例4 | STEM/EDX、TEMによるネオジム磁石評価
物理解析サービス(STEM-EELS/TEM)
超高倍率(nmオーダー)の微細観察&分析にご対応致します!
FIB
(FB2100:日立)
FIB-SEM/EDX/EBSD/STEM
(NB5000:日立)
(NB5000)
STEM/EDX/EELS
(HD2300:日立)
TEM
(H9500:日立)
(HD2300)
(H9500)
FIBサンプリング → STEM-EDX分析 → TEM観察(ネオジム磁石)
(STEM観察像)
(粒界付近のSTEM-EDXライン分析結果)
(粒界相付近のTEM観察像)
(粒界付近のTEM観察像)
[粒界相、粒界付近の構造が多結晶~アモルファスである事を確認]
物理解析サービス(断面SEM/EDX/EBSD) (PDF形式:1317KB)