はんだめっきのEBSD方位マップ |
■構造解析・形態観察
●観察:FE-SEM/TEM/FIB
●組成:XRF/EDS/FE-EPMA
●表面:AES/XPS/TOF-SIMS
●結晶/配向性:EBSD/XRD
●粗さ:AFM/レーザー顕微鏡
●不純物:SIMS/GD-OES |
■耐食性評価
●腐食:応力/割れ/疲労/磨耗
●防食:浸漬/孔食
●電気化学性:オートクレーブ
●耐候性:サンシャインウェザーメーター
●塩水噴霧/温度サイクル |
|
|
金属多層膜のGD-OES |
金属欠陥部のSPM像 |
|
|
■機械特性・物性測定・熱分析
●材料試験:引張/曲げ/圧縮/せん断
●硬度/弾性率:ナノインデンテーション
●熱伝道率:レーザーフラッシュ
●膨張係数:TMA
●比熱容量:DSC
●歪み:歪みゲージ |
温度サイクル槽 |
Cu管腐食生成物の
TOF-SIMSスペクトル |
■化学分析
●微量成分:IC/AAS
●ICP-AES/ICP-MS
●環境測定:大気/ガス/水質/残留物
●法的規制:RoHS/REACH |
|
|
微小試験機
(-60℃ → 300℃) |
マイクロオートグラフ |
|