・高温保存試験の有無に拘わらず、最表面からSEI層の構造に由来するLixFy,LixPO3Fy,LiCoOx等のフラグメントが検出された。
・相対強度の比較から、高温保存試験後に伴いPOx,POxFy,LixPO3Fy,LiCoOx等が増加した。
・深さ方向分析の結果、高温保存試験によってSEI層は厚く成長しており、その構造は表面からPFx層/
Li‐F層/Li‐O層であった。また、表層のPFx層は電解液の残渣に由来するものと考えられる。
・高温保存試験のSEI層内には、多量のLiCoC3が存在している事が確認された。